（19）中华人民共和国国家知识产权局
（12）发明专利申请
（10）申请公布号
CN101586942A
（43）申请公布日 2009.11.25（21）申请号CN200910087716.9
（22）申请日2009.06.19
（71）申请人北京工业大学
地址100124 北京市朝阳区平乐园100号
（72）发明人石照耀;蔡轶珩;向大超
（74）专利代理机构北京思海天达知识产权代理有限公司
代理人刘萍
（51）Int.CI
G01B11/00;
G01B11/24;
权利要求说明书说明书幅图
（54）发明名称
接触式光纤测头测量方法及其装置
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（57）摘要
本发明涉及一种接触式光纤测头测量方法
与装置，属于精密测试技术与仪器和光学精密测
量领域。其基本思想：单色光光源的光通过单根
光纤传至远离端光纤球，然后通过光纤球外层的
反射膜反射回来，再进入外围的接收光纤束，然
后经过光学系统至后端的图像探测器，再通过数
字图像处理来识别接收来的光斑，如果前端光纤